雷射位移計(二次元/ 三次元) | KEYENCE 台灣基恩斯
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高精細CMOS 為傳統之4 倍. 搭載新開發的高精細CMOS,實現業界最高的3200 point/profile。
輪廓校準功能. 生成3D 影像時,對2D 輪廓的位置的X‧Z‧θ 分別進行補正。
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雷射位移計(二次元/三次元)
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雷射位移計(二次元/三次元)
使用光切法的雷射位移計(2D、3D)。
以線型雷射光照射目標物表面,再以CMOS接收其反射光的變化,以非接觸形式量測高度、高低差、寬度、平面度等輪廓(截面形狀)。
對連續取得之輪廓資料進行影像處理,取得3D形狀,實現高精度量測與全檢。
下載型錄
根據應用與產業選擇測量儀
依用途選擇
依產業選擇
依用途選擇
依產業選擇
厚度/寬度
高度/段差
外徑/內徑
行程/定位
偏擺/振動
偏差/偏心
形狀/輪廓
3D檢測
汽車(車身/零件)
電動車配件
薄膜/膠片
半導體
醫療
電氣和電子配件
纜線/光纖
鋼鐵
顯示停產系列
產品陣容
超高精細線上輪廓感測器
LJ-X8000系列
LJ-X8000系列實現了業界最高的3200點資料/輪廓超高精密量測。
超高精細線上輪廓測量儀器LJ-X8000,是一種可以精確捕獲"真實形狀"、三次元高度檢測的雷射位移計(2D‧3D)。
在超高精度量測的同時,以最快的速度實現16kHz的高速採樣。
另外,由於可以檢測輸送過程中的所有方向的錯位,例如錯位和顫動,並可以自動進行校正和測量,因此可以實現穩定的自動100%檢查,而無需花費時間來對準或停止線上輸送。
在實現了高清且使用方便的狀態,只需三步驟即可輕鬆完成設置,因此可以大大減少安裝和設定更改的工時。
產品型錄
詢問價格
檢視詳細資料
產品特性
超高精細量測解析度為以往的4倍
透過業界最高3200點資料/輪廓的超高精細量測,可極為準確地描繪目標物的形狀。
藉由呈現「真實的形狀」,可以正確量測及檢查。
傳統
粗
偏差、誤差
易受表面狀態的影響
LJ-X8000
極細
正確
無論何種表面狀態都可穩定量測
能夠超高精度的理由
如果只是單純提高CMOS的畫素數,則每個畫素的尺寸將會變小,無法獲得足夠的受光量。
最終導致高度方向的精度降低及目標物檢查能力降低。
LJ-X8000系列為消除此現象,採用了以下新技術。
柱面物鏡
採用獨創設計的柱面物鏡,照射平行光。
抑制目標物表面反射光的散射。
大口徑鏡頭
採用獨家的光學設計,並搭載了受光面積為傳統鏡頭3倍的受光鏡頭,實現受光量的提升。
高精細CMOS為傳統之4倍
搭載新開發的高精細CMOS,實現業界最高的3200point/profile。
輪廓校準功能
生成3D影像時,對2D輪廓的位置的X‧Z‧θ分別進行補正。
消除振動、偏心、工件彎曲或起伏等的影響,生成適於檢查的影像。
無輪廓校準
受到運送導致的振動的影響,無法生成最佳的3D影像。
有輪廓校準
使用輪廓校準,可以生成最佳的3D影像。
在線上實現對撞擊痕跡、缺陷等的穩定檢查。
超高速線上輪廓感測器
LJ-V7000系列
超快的速度,64,000輪廓/秒-在這樣的高速下,實現所有產品、所有形狀的量測
產品型錄
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高精度2D雷射位移感測器
LJ-G5000系列
LJ-G系列可在X及Z方向上精確量測物體表面的輪廓。
可透過28種量測模式量測表面輪廓上的高度、寬度及間隙。
產品型錄
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停產的系列
2D雷射位移感測器
LJ系列
停產
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