光致發光快速圖譜儀--Quatek

光致發光快速圖譜儀. 產品型號：RPMBlue; 制造原廠：Nanometrics Inc. 索取報價. 產品特色; 產品規格; 資料下載; 在線咨詢. PL mapping系統，主要為化合物半導體快速全 ... 產品中心 半導體 集成電路工藝 電阻率/PN性/少子壽命 矽片分選 晶圓厚度/薄膜厚度/應力測量 碳氧含量量測 表面缺陷分析 曝光機 半導體器件測試 探針台/探針卡 平板顯示製造 電阻率/膜厚量測 光學檢測 耗材及塗布機噴嘴 液晶阻值量測 觸摸屏檢測 太陽能製程 電阻率/PN/少子壽命/碳氧含量 薄膜厚度及反射率 太陽能模擬器 聚焦太陽能 化合物半導體 襯底及外延片材料特性測試 霍爾效應 電化學CV 熒光光譜儀/電致發光 外延層厚度量測 非接觸式面電阻/超高阻量測 表面缺陷及形貌掃描 深能級瞬態譜測試 芯片製程及封裝應用 LED光學特性測試 探針台/探針 薄膜厚度及電阻率 電漿輔助化學氣相沉積系統 測試與量測 光學檢測 分光光譜儀/夜視儀 光功率計 反射率/穿透率量測 標準光源/積分球 圖像品質測試 計量校準 多功能校準器 高精度數字萬用表 標準功率源 標準電阻/電容/電感 安規測試儀標準 高精度LCR表/高精度數字電橋 光學計量 其它計量量測儀器 靜電量測及控制 靜電量測 靜電消除 抗靜電能力測試與分析 防靜電耗材 防靜電工程材料 潔淨室塵埃顆粒計數儀 科研測試與分析 高壓/脈衝源 鐵電壓電材料 材料特性分析 其它科研儀器 電路板檢測 SMT器件檢測 電路板全自動測試平臺 電路板故障檢測 電力電子量測 電力設備檢測 電力品質監測 硬體在環(HIL)測試電力電子即時模擬器 功率分析 特殊量測測試應用 道路安全反光材料檢測 圖像品質/雷射印表機檢測 工程材料 工程塑料添加劑 工程塑料顆粒 工程塑料型材 其他先進材料 零件及加工服務 服務與支持 常見問題 資料下載 技術支援 代理廠商 關於德技 公司簡介 公司新聞 展會信息 加入我們 聯絡我們 English 简体中文 化合物半導體 半導體 化合物半導體 測試與量測 工程材料 襯底及外延片材料特性測試 襯底及外延片材料特性測試 芯片製程及封裝應用 熒光光譜儀/電致發光 霍爾效應 電化學CV 熒光光譜儀/電致發光 外延層厚度量測 非接觸式面電阻/超高阻量測 表面缺陷及形貌掃描 深能級瞬態譜測試 光致發光快速圖譜儀 產品型號：RPMBlue 制造原廠：NanometricsInc. 索取報價 產品特色 產品規格 資料下載 在線咨詢 PL mapping系統，主要為化合物半導體快速全晶片Mapping設計的。

NANOMETRICS公司的精心設計使RPM BLUE FSM可以在不影響光譜及空間解析度的前提下達到超快速測量的目的。

例如2英寸晶片1mm的空間解析度，其光強度測量的耗時僅為19秒，就是說2026個點的量測可以在少於20秒的時間內完成；對於全光譜量測，同樣的空間解析度，只需25秒就可以完成峰值波長、峰值強度、半高寬、積分強度等參數測試   資料以R，θ方式收集、存儲，並以X,Y坐標軸方式顯示資料和圖像可輸出至其它形式的套裝軟體顯示比例與顏色可由使用者設定或系統預設全光譜掃描,並對峰值波長、峰值強度、半高寬、積分強度同步收集和顯示可以對晶片上任意一點進行單點光譜顯示和存儲每秒可以收集180個點的全光譜或2000個點的強度圖譜使用者自訂資料篩選功能統計資料以數位或柱狀圖顯示可分析合金成分可以對系統參數和測量參數自動分段選擇附加功能選項可完成薄膜厚度，布拉格反射體和VCSEL的特性量測   NAN/RPMBlue 上一頁 下一頁 返回列表