PL-螢光分光光譜儀檢測使用及管理辦法
文章推薦指數: 80 %
光激螢光(photoluminescence,簡稱PL)光譜,是將一道激發光能量必須大於材料的能隙照射在樣品上,對半導體材料而言,在吸收此激發光能量後,價帶中的電子會激發至導電 ...
跳到主要內容區
首頁
中心簡介
儀器設備
PL-螢光分光光譜儀檢測使用及管理辦法
儀器簡介
高感度、多功能螢光分光光譜儀是一種分析光譜的儀器,可適用於電子、光電、化工、材料等研究領域。
高感度、多功能螢光分光光譜儀的基本原理乃根據光電效應。
分光儀是利用火花放電(spark)方式,給予能量逼迫原子之外層電子逃逸到下一個軌道。
當電子再返回到原軌道時,就會放出能量即為所謂光譜。
每一元素之原子結構不同,所以所獲得之光譜亦不同。
光激螢光(photoluminescence,簡稱PL)光譜,是將一道激發光能量必須大於材料的能隙照射在樣品上,對半導體材料而言,在吸收此激發光能量後,價帶中的電子會激發至導電帶中上,價帶上則產生一電洞,形成電子-電洞對(electron-holepair),由於庫侖力的吸引,使電子-電洞對以激子的形式存在。
II-VI半導體晶體的PL光譜主要是激子的放射,激子可視為是類氫原子組態,因此可像氫原子般建立束縛態的能階結構,激子能階是位於導電帶減去一個激子結合能處。
具較高能量的激子會因局域化效應損失部份能量而至較低能態上。
在沒有外來光子的情形下,激子具有一定的生命期,電子會與電洞輻射性的復合放出光子。
PL量測技術目前已被廣泛應用於半導體材料的光學特性與電子結構的研究分析上。
PL光譜可以顯示出材料的優劣性,例如:樣品的不均勻度、雜質分布以及缺陷(defects)……等等。
一個較理想的晶體,其PL光譜是呈現半高寬較窄、峰值較尖銳的曲線。
儀器設備與規格
儀器中文名稱:高感度、多功能螢光分光光譜儀
儀器英文名稱:Fluorescencespectrophotometer
廠牌及型號:HITACHIF-4500
重要規格:
1.單色光器:凹面光柵系統
2.波長範圍:200~730nm和零次光
3.波析度:1.0nm
4.掃瞄速度:15、60、240、1200、2400、30000nm/min
5.具最細之TimeInterval,可達0.001sec
6.應答時間(0~98%):0.004、0.01、0.05、0.1、0.5、2.0、8.0秒
7.偵測器:R3788光電倍增管
8.量測模式:三度位向測量、波長掃瞄、時間掃瞄、定量分析
9.服務項目:
1.三度位向測量
等高線繪圖(螢光/磷光)
圖形放大與縮小
激勵/放射光譜座標測量
2.波長掃瞄
螢光/磷光/冷光光譜
重覆掃瞄CAT掃瞄
EX/EM光譜補正
波峰檢出與讀取
圖譜平滑化
軸座標轉換(nm、kcm-1)
面積積分
3.時間掃瞄
螢光/磷光/冷光光譜之時間
速率計算
波峰檢出與讀取
圖譜平滑化
磷光生命週期之計算
面積積分
4.定量分析
螢光/磷光/冷光之定量分析
1至3波長測量方式
1次至3次波長之檢量曲線及線段之選擇
重覆測量之平均值
時間積分
統計計算
5.其它
預先掃瞄:可對未知樣品自動選擇及設定EX/EM波長
檔案轉換:可轉換成ASCII。
樣品規格
一、樣品不得具有毒性、磁性、及揮發性。
二、液體樣品約需10ml。
三、粉體樣品約需10g。
四、厚(薄)膜樣品厚度在3mm以下,長寬各為5cm以上,須為平行及表面平滑。
五、分析測試時,若發現送測樣品不合規定,樣品將被退回,但仍須繳交費用。
儀器放置地點與檢測時間
儀器放置於材資館三樓奈米光電磁材料技術研發中心,電話(02)27712171轉2758,檢測時間為週一至週五(國定例假日)上午八點至下午五點。
申請檢測服務辦法
一.申請檢測流程
(1)填寫申請表:請上網(https://emo.ntut.edu.tw/p/412-1084-14266.php)下載檢驗委託確認單,並請務必詳細填寫E-mail 網址及電話(含手機)。
(2) 以傳真(Fax:02-27317185)或電子郵件(E-mail 網址:[email protected])方式送交申請表格,收件後將編列檢測序號及檢測人員,並上網公告樣品待測日期,如果48小時內未查詢到送測樣品之待測序號,請來電詢問或惠予重新申請,以防因文件不慎遺失而耽誤檢測進度。
(3) 檢測完成後之數據(含word檔)及繳費通知單,以電子郵件傳送予送測單位。
(4) 繳費方式:
a.校內人士:由本校經費支付者,請逕至總務處出納組繳款,並領取「自行收納統一收據」後,填寫本校丙式申請單,依行政程序核銷。
b.以掛號郵寄銀行本票、銀行支票、郵政匯票(抬頭均請開立國立台北科技大學)
至:台北市106大安區忠孝東路3段1號 國立台北科技大學材資系
c.逕匯入學校帳戶者:請務必於匯款單註明奈米光電磁材料技術研發中心及
繳款人姓名,入帳後工程學院將郵寄「自行收納統一收據」。
請逕匯台灣銀行城中分行
專戶存款帳號:045036070069
戶名:國立台北科技大學401專戶
二.委測單位必須在檢測日期前三天內將樣品送達。
為避免樣品測試過程所可能發生的爭議,請先與檢測人員聯繫檢測行程。
三.委測單位因故無法如期將樣品送達時,應事先以電話或書面通知,並重新預約。
若連續三次無法依預約時間送件檢測且未事先通知者,半年內不再接受該單位之預約。
四.檢測樣品若需特殊處理,請事先告知並與儀器操作員溝通討論。
送測樣品未事先以書面敘明樣品前製備處理,而致無法獲取所欲得之圖譜,委測單位仍須依工作時數付費。
五.檢測完成之樣品不退還;數據結果之分析及解釋,請自行處理。
進入儀器收費標準頁面
親愛的使用者:
感謝您使用本儀器的服務,使其發揮最大效能,倘因經由本儀器而使您的著作得到相當的助益,請惠予考慮將國立台北科技大學奈米光電磁材料技術研發中心或CenterofEMOMaterialsandnanotechnology,NationalTaipeiUniversityofTechnology列名為『Acknowledgement』,這對於我們為維護本儀器申請經費將有很大的幫助。
請將發表的著作複印一份寄給我們或告訴我們刊載的期刊、年份、卷數、頁數、和著作題目,無勝感激。
奈米中心技術主管盧錫全
聯絡電話:02-2771-2171轉2758(或2759)
傳真電話:02-8773-2608
行動電話:0953-821-513
E-mail:[email protected]
因業務繁忙如來電時忙線中,請多以E-mail洽詢,謝謝!
延伸文章資訊
- 1國立屏東大學應用物理系光電暨材料碩士班碩士論文
Data of temperature-dependent PL analysis on these ... 2-2 光致螢光光譜(Photoluminescence, PL)的原理. ... ...
- 2PL-螢光分光光譜儀檢測使用及管理辦法
光激螢光(photoluminescence,簡稱PL)光譜,是將一道激發光能量必須大於材料的能隙照射在樣品上,對半導體材料而言,在吸收此激發光能量後,價帶中的電子會激發至導電 ...
- 3螢光/磷光光譜儀機台規範
對於未知樣品量測方式,先將樣品擺放置樣品箱後,條件設定為,先給任一激發. 波長的光源,例如320nm. 得到圖譜後,. 會得到一個PL. 掃描範圍由335nm 到625nm,避開激發.
- 4光激發螢光量測的原理、架構及應用
過程產生放射,或者是經由非輻射再復合過程產生. 吸收(1-3)。 光激發螢光(photoluminescence, PL) 光譜對於. 檢測發光半導體材料的光特性是一個有力又無破壞.
- 5光致發光- 維基百科,自由的百科全書
光致發光(Photoluminescence,簡稱PL)是冷發光的一種,指物質吸收光子(或電磁波)後重新輻射出光子(或電磁波)的過程。從量子力學理論上,這一過程可以描述為物質 ...