pl光致發光譜怎麼分析 - 日間新聞

所謂光致發光(Photoluminescence)指的是以光作為激勵手段，激發材料中的電子從而實現發光的過程。

它是用光激發物體引起的發光現象。

目…… 首頁>科技>鑠思百檢測2021-05-2615:36 pl光致發光譜怎麼分析 所謂光致發光(Photoluminescence)指的是以光作為激勵手段，激發材料中的電子從而實現發光的過程。

它是用光激發物體引起的發光現象。

目前，光致發光技術已成為研究固體中電子過程的重要手段，由於它無須對樣品表面進行加工，對樣品厚度也沒有什麼要求。

因此，它是一種無破壞性的檢測手段，特別適合於研究小樣品。

下面介紹一下光致發光譜是如何測試的 一、樣品的製備 如左圖所示，將石英玻璃片（右邊）小心的平鋪在壓片模具的凹槽（中間）中，然後將研磨好的待測樣品均勻地分散在玻璃片上，最後將旋鈕（左邊）蓋在凹槽上，製作成如右圖所示的裝有樣品的模具，此操作注意旋緊旋鈕時應小心謹慎，以免壓壞玻璃片。

二、固體支架的安裝 如左圖所示，將壓片模具中樣品暴露在外的一面對準光源孔放置在熒光固體支架上。

如中圖所示，取下F-4500中固定熒光液體支架的螺絲，順利取下熒光液體支架，之後將熒光固體支架固定在F-4500的儀器上，注意要將熒光固體支架的光源孔對準F-4500的光源方向。

待固體支架安裝好以後，準備對待測樣品進行固體熒光的測試。

三、發射光譜的掃描 點選“Method”圖示，在開啟的“AnalysisMethod”框圖中，點選“General”圖示，選擇“Mesurenent”中的“Wavelengthscan”（圖一），點選“Insrument”，選擇“Scanmode”中的“Emission”，固定“EXWL”（激發波長）為某一整數值X（只能是200-900），則“EMStartWL”（開始發射掃描時的波長）為X+20，“EMEndWL”（結束髮射掃描時的波長）為2X-20，本教程所設定的引數如圖二所示。

並且將狹縫寬度中發射和激發的狹縫寬度都調整成5.0，電壓調整成400，其餘數值採用預設值。

最後，點選“Report”，將“ReportDatestart”設定為320-580（圖三）。

如果發射譜圖的光譜強度不合適，可以調整“Emission”中的“EXWL”，即激發波長，也可以調整狹縫寬度以及電壓。

如果發射譜圖的光譜強度依然不合適，在進行激發譜圖的掃描操作後，可再一次反推發射峰。

四、資料的處理 使用origin開啟上述所儲存的*.TXT檔案，畫出發射光譜和激發光譜的光譜疊加圖，初步分析實驗資料，實驗作圖如下圖所示。

由於光致發光遵循斯多克斯定律，即由物體所發射的波長（發射波長，黑線）總是大於激發輻照的波長（激發波長，紅線），並且發射的能量始終小於吸收的能量（如下圖所示）。

五、資料的分析（針對光催化過程） 物質在光的激勵下，電子從價帶躍遷至導帶，並在價帶上留下空穴，電子和空穴的複合，將導致光致發光，進而形成不同波長光的強度或能量分佈的光譜圖。

光致發光過程包括熒光發光和磷光發光。

光致發光的峰越強的話，離開導帶並與空穴發生複合的電子越多，產生的光子能量越多，進而說明電子和空穴的複合率越高，即兩者分離效率越低。

如下圖所示，樣品1，2，3中，發光強度的大小順序為樣品1>樣品2>樣品3，說明樣品1光生電子和空穴複合後產生的光子最多，光致發光的強度最強，進而光催化活性最弱。

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